HBM与3D芯片时代,半导体臭氧系统如何选型?——先进制程对臭氧设备提出了哪些新要求
引言
近几年,随着AI算力快速增长,HBM(高带宽存储器)、3D NAND、先进封装以及Hybrid Bonding等技术迅速发展,半导体制造正在由二维结构向三维集成演进。
制程节点不断缩小、堆叠层数不断增加,也使工艺窗口越来越窄。臭氧(O₃)作为一种高活性氧化剂,已经从传统清洗工艺逐渐扩展到低温氧化、ALD沉积、介质膜制备、晶圆表面活化及臭氧水清洗等多个关键环节。
与此同时,半导体行业对臭氧系统的要求也发生了明显变化。客户关注的重点,已经不仅是臭氧浓度,而是整个臭氧系统的稳定性、洁净度、可靠性以及长期运行能力。
本文结合近年来先进制程的发展趋势,分析臭氧在半导体制造中的典型应用,并探讨半导体臭氧系统应具备哪些关键性能。
一、为什么先进制程越来越依赖臭氧?
随着HBM和3D芯片不断发展,芯片制造需要完成越来越多的低温、高精度工艺。
传统热氧化通常需要较高的工艺温度,而在许多先进器件制造过程中,过高的温度可能影响已完成结构的尺寸稳定性或材料性能。因此,在部分氧化、薄膜沉积及表面处理工艺中,臭氧由于具有更高的化学活性,被广泛作为氧化剂使用。
相比氧气,臭氧具有以下特点:
氧化反应活性更高
可降低部分工艺温度
有利于提高膜层致密性
减少有机残留及碳污染
提升薄膜均匀性
缩短部分工艺反应时间
正因如此,臭氧已经成为ALD、O₃-CVD、臭氧水清洗等工艺的重要组成部分。

二、先进制程中的五大臭氧应用
1、ALD与CVD薄膜沉积
在ALD(原子层沉积)及部分CVD工艺中,臭氧通常作为氧化剂,与金属有机前驱体发生反应,用于沉积:
HfO₂
Al₂O₃
ZrO₂
SiO₂
High-k介质膜
相比采用水蒸气作为氧化剂,臭氧具有更高的反应活性,可更充分地去除前驱体配体,有助于降低碳残留,提高膜层纯度和致密性,并支持更低温度下的沉积工艺。
随着DRAM、3D NAND等器件结构不断复杂,臭氧已成为许多ALD设备的重要氧化剂之一。
典型要求包括:
高浓度臭氧输出
浓度长期稳定
与MFC稳定匹配
多腔体供气一致性良好
2、低温氧化工艺
除ALD外,在部分介质层制备及低温氧化工艺中,臭氧也被用于形成高质量氧化层。
臭氧能够在较低温度下促进氧化反应,有助于降低整体热预算,并改善部分薄膜质量。
对于先进器件而言,这意味着可以在保证性能的同时减少高温对既有结构造成的影响。
3、晶圆表面清洗
臭氧水(DI-O₃)目前广泛用于晶圆湿法清洗。
由于臭氧终分解为氧气,不会引入新的化学污染,因此适用于超纯水系统。
典型应用包括:
CMP后有机残留去除
光刻后表面清洗
金属沉积前预处理
有机污染物去除
臭氧水系统通常要求:
稳定臭氧浓度
高效气液混合
在线浓度监测
超纯水兼容设计
4、TSV及高深宽比结构清洗
HBM及先进封装大量采用TSV(Through Silicon Via)。
由于TSV具有较大的深宽比,传统清洗方式难以保证孔内污染物完全去除。
目前较成熟的方法通常采用:
臭氧水 + 兆声波(Megasonic)
臭氧负责氧化有机污染物;
兆声波帮助剥离污染颗粒。
两者结合能够明显改善深孔结构内部清洗效果。
5、Hybrid Bonding表面活化
混合键合已经成为HBM及先进封装的重要发展方向。
在键合之前,需要保证晶圆表面具有:
极低有机污染
良好亲水性
高洁净度
稳定表面状态
臭氧能够有效去除表面有机物,并提高表面羟基含量,因此被广泛用于键合前表面活化处理。

三、为什么先进制程越来越需要高浓度臭氧?
这是目前很多设备厂家容易忽略的问题。
实际上,高浓度臭氧并不是简单追求更高的数值,而是为了获得更好的工艺控制能力。
较高的臭氧浓度通常意味着:
更快的氧化反应速率;
更短的工艺时间;
更高的设备产能(Throughput);
更好的膜层质量;
更低的工艺温度;
更稳定的重复性。
因此,越来越多先进设备开始采用高纯氧源配合高浓度臭氧发生系统。
需要说明的是,实际臭氧浓度应根据不同设备及工艺要求进行配置,并非浓度越高越好。
四、一套半导体臭氧系统应重点关注哪些指标?
相比传统工业臭氧设备,半导体行业更关注整个系统性能,而不仅仅是臭氧发生器。
建议重点关注以下指标:
指标 | 建议要求 |
臭氧浓度 | 根据工艺需求配置 |
浓度稳定性 | 长期波动小 |
流量控制 | MFC闭环控制 |
气源 | 99.999%以上高纯氧 |
气体露点 | ≤-60℃ |
系统洁净度 | 半导体级材料及管路 |
在线监测 | 配置紫外臭氧分析仪 |
自动控制 | 支持PLC及自动反馈 |
多腔体供气 | 保证各工艺腔一致性 |
尾气处理 | 配置催化分解系统 |
这些指标共同决定了臭氧系统能否长期稳定服务于先进制程。
五、同林可提供完整的半导体臭氧系统解决方案
针对半导体制造对臭氧工艺的需求,同林可提供覆盖实验室研发、中试及批量生产的臭氧系统方案,包括:
半导体级高浓度臭氧发生器;
高纯氧供气及气路系统;
紫外臭氧在线浓度监测;
气液混合及臭氧水制备系统;
自动浓度反馈控制;
多腔体供气系统;
臭氧尾气催化分解装置;
系统集成、安装调试及技术支持。
所有系统均可根据客户的工艺需求进行定制配置,满足ALD、CVD、湿法清洗、材料研究及先进封装等不同应用场景。
结语
随着HBM、3D NAND、Hybrid Bonding等先进制程持续发展,臭氧已经从辅助工艺逐步成为关键工艺介质之一。未来,半导体臭氧系统的竞争重点,将不再局限于臭氧浓度,而是围绕浓度稳定性、洁净度、自动控制能力以及系统可靠性展开。
对于设备制造商和科研机构而言,选择一套适合工艺需求、运行稳定、易于集成的臭氧系统,将有助于提高工艺一致性和研发效率,为先进半导体制造提供可靠支持。