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HBM与3D芯片时代,半导体臭氧系统如何选型?——先进制程对臭氧设备提出了哪些新要求

HBM与3D芯片时代,半导体臭氧系统如何选型?——先进制程对臭氧设备提出了哪些新要求

摘要

制程节点不断缩小、堆叠层数不断增加,也使工艺窗口越来越窄。臭氧(O₃)作为一种高活性氧化剂,已经从传统清洗工艺逐渐扩展到低温氧化、ALD沉积、介质膜制备、晶圆表面活化及臭氧水清洗等多个关键环节。

更新时间:2026-07-08
来源:www.tonglin.cn
作者:同林科技
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 HBM与3D芯片时代,半导体臭氧系统如何选型?——先进制程对臭氧设备提出了哪些新要求

引言

近几年,随着AI算力快速增长,HBM(高带宽存储器)、3D NAND、先进封装以及Hybrid Bonding等技术迅速发展,半导体制造正在由二维结构向三维集成演进。

制程节点不断缩小、堆叠层数不断增加,也使工艺窗口越来越窄。臭氧(O₃)作为一种高活性氧化剂,已经从传统清洗工艺逐渐扩展到低温氧化、ALD沉积、介质膜制备、晶圆表面活化及臭氧水清洗等多个关键环节。

与此同时,半导体行业对臭氧系统的要求也发生了明显变化。客户关注的重点,已经不仅是臭氧浓度,而是整个臭氧系统的稳定性、洁净度、可靠性以及长期运行能力。

本文结合近年来先进制程的发展趋势,分析臭氧在半导体制造中的典型应用,并探讨半导体臭氧系统应具备哪些关键性能。

 一、为什么先进制程越来越依赖臭氧?

随着HBM和3D芯片不断发展,芯片制造需要完成越来越多的低温、高精度工艺。

传统热氧化通常需要较高的工艺温度,而在许多先进器件制造过程中,过高的温度可能影响已完成结构的尺寸稳定性或材料性能。因此,在部分氧化、薄膜沉积及表面处理工艺中,臭氧由于具有更高的化学活性,被广泛作为氧化剂使用。

相比氧气,臭氧具有以下特点:

氧化反应活性更高

可降低部分工艺温度

有利于提高膜层致密性

减少有机残留及碳污染

提升薄膜均匀性

缩短部分工艺反应时间

正因如此,臭氧已经成为ALD、O₃-CVD、臭氧水清洗等工艺的重要组成部分。

 

HBM与3D芯片时代,半导体臭氧系统如何选型?——先进制程对臭氧设备提出了哪些新要求(图1)

二、先进制程中的五大臭氧应用

1、ALD与CVD薄膜沉积

在ALD(原子层沉积)及部分CVD工艺中,臭氧通常作为氧化剂,与金属有机前驱体发生反应,用于沉积:

HfO₂

Al₂O₃

ZrO₂

SiO₂

High-k介质膜

相比采用水蒸气作为氧化剂,臭氧具有更高的反应活性,可更充分地去除前驱体配体,有助于降低碳残留,提高膜层纯度和致密性,并支持更低温度下的沉积工艺。

随着DRAM、3D NAND等器件结构不断复杂,臭氧已成为许多ALD设备的重要氧化剂之一。

典型要求包括:

高浓度臭氧输出

浓度长期稳定

与MFC稳定匹配

多腔体供气一致性良好

 

2、低温氧化工艺

除ALD外,在部分介质层制备及低温氧化工艺中,臭氧也被用于形成高质量氧化层。

臭氧能够在较低温度下促进氧化反应,有助于降低整体热预算,并改善部分薄膜质量。

对于先进器件而言,这意味着可以在保证性能的同时减少高温对既有结构造成的影响。

 

3、晶圆表面清洗

臭氧水(DI-O₃)目前广泛用于晶圆湿法清洗。

由于臭氧终分解为氧气,不会引入新的化学污染,因此适用于超纯水系统。

典型应用包括:

CMP后有机残留去除

光刻后表面清洗

金属沉积前预处理

有机污染物去除

臭氧水系统通常要求:

稳定臭氧浓度

高效气液混合

在线浓度监测

超纯水兼容设计

 

4、TSV及高深宽比结构清洗

HBM及先进封装大量采用TSV(Through Silicon Via)。

由于TSV具有较大的深宽比,传统清洗方式难以保证孔内污染物完全去除。

目前较成熟的方法通常采用:

臭氧水 + 兆声波(Megasonic)

臭氧负责氧化有机污染物;

兆声波帮助剥离污染颗粒。

两者结合能够明显改善深孔结构内部清洗效果。

 

5、Hybrid Bonding表面活化

混合键合已经成为HBM及先进封装的重要发展方向。

在键合之前,需要保证晶圆表面具有:

极低有机污染

良好亲水性

高洁净度

稳定表面状态

臭氧能够有效去除表面有机物,并提高表面羟基含量,因此被广泛用于键合前表面活化处理。

 

HBM与3D芯片时代,半导体臭氧系统如何选型?——先进制程对臭氧设备提出了哪些新要求(图2)

三、为什么先进制程越来越需要高浓度臭氧?

这是目前很多设备厂家容易忽略的问题。

实际上,高浓度臭氧并不是简单追求更高的数值,而是为了获得更好的工艺控制能力。

较高的臭氧浓度通常意味着:

更快的氧化反应速率;

更短的工艺时间;

更高的设备产能(Throughput);

更好的膜层质量;

更低的工艺温度;

更稳定的重复性。

因此,越来越多先进设备开始采用高纯氧源配合高浓度臭氧发生系统。

需要说明的是,实际臭氧浓度应根据不同设备及工艺要求进行配置,并非浓度越高越好。

 

四、一套半导体臭氧系统应重点关注哪些指标?

相比传统工业臭氧设备,半导体行业更关注整个系统性能,而不仅仅是臭氧发生器。

建议重点关注以下指标:

指标

建议要求

臭氧浓度

根据工艺需求配置

浓度稳定性

长期波动小

流量控制

MFC闭环控制

气源

99.999%以上高纯氧

气体露点

≤-60℃

系统洁净度

半导体级材料及管路

在线监测

配置紫外臭氧分析仪

自动控制

支持PLC及自动反馈

多腔体供气

保证各工艺腔一致性

尾气处理

配置催化分解系统

这些指标共同决定了臭氧系统能否长期稳定服务于先进制程。

 

五、同林可提供完整的半导体臭氧系统解决方案

针对半导体制造对臭氧工艺的需求,同林可提供覆盖实验室研发、中试及批量生产的臭氧系统方案,包括:

半导体级高浓度臭氧发生器;

高纯氧供气及气路系统;

紫外臭氧在线浓度监测;

气液混合及臭氧水制备系统;

自动浓度反馈控制;

多腔体供气系统;

臭氧尾气催化分解装置;

系统集成、安装调试及技术支持。

所有系统均可根据客户的工艺需求进行定制配置,满足ALD、CVD、湿法清洗、材料研究及先进封装等不同应用场景。

 

结语

随着HBM、3D NAND、Hybrid Bonding等先进制程持续发展,臭氧已经从辅助工艺逐步成为关键工艺介质之一。未来,半导体臭氧系统的竞争重点,将不再局限于臭氧浓度,而是围绕浓度稳定性、洁净度、自动控制能力以及系统可靠性展开。

对于设备制造商和科研机构而言,选择一套适合工艺需求、运行稳定、易于集成的臭氧系统,将有助于提高工艺一致性和研发效率,为先进半导体制造提供可靠支持。